一般來(lái)說(shuō)，樣品測(cè)量范圍1nm～6μm，濃度體積比≤0.5%（0.1%，保證CountRate不超過(guò)800Kcps），體積1.5～3mL，測(cè)量時(shí)間1～2min/Run。要記住做粒徑測(cè)試時(shí)不能同時(shí)測(cè)試Zeta電位。

　　通過(guò)測(cè)定顆粒的Zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類(lèi)型儀器相比，它具有顯著的*性。可廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專(zhuān)業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。

　　zeta電位儀儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，是同時(shí)滿(mǎn)足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與zeta電位分析儀，可檢測(cè)粒徑從0.1nm到12.30μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。在半導(dǎo)體，醫(yī)藥和食品行業(yè)，陶瓷和顏料工業(yè)，聚合物和化工領(lǐng)域有*的應(yīng)用。